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基礎型 TEM 小室 返回
產品概述
該產品是一個 2 GHz 的橫電磁波(TEM)小室,能夠產生均勻橫電磁場,用于測試小型集成電路,如芯片、無線通信模塊等。測試輻射發射時, 集成電路在小室中發射的輻射場可以通過端口使用電磁波接收器進行測量。測試抗擾度時,通過小室的輸入端口施加的外部測試信號在 小室內導體上方產生 TEM 測試場。
符合標準:
IEC 61967-2 集成電路電磁發射測量 150kHz ~ 1GHz 第 2 部分:輻射發射測量 TEM 小室法 SAE J1752/3 集成電路 TEM/ 寬帶 TEM(GTEM)小室法的輻射發射測量;TEM 小室(150 kHz 至 1 GHz)、寬帶 TEM 小室(150 kHz
至 18 GHz) IEC 62132-2 集成電路電磁抗擾度測量 第 2 部分:輻射抗擾度測量 TEM 小室和 GTEM 小室法
應用領域:
用于測試小型集成電路,如芯片、無線通信模塊等
技術參數:
頻段
DC – 2 GHz
阻抗
50 Ω ± 5 %
電壓駐波比
DC - 3 GHz < 1.25
插入損耗 DC - 2 GHz < 1 dB
回波損耗
DC - 2 GHz > 20 dB
射頻接口
N 型接口
待測電路板尺寸
100 × 100 mm

配件:
視頻播放:

版權所有:上海凌世電磁技術有限公司(2020)

滬ICP備12035591號-1

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