電磁兼容測試利器:一文帶你了解TEM小室
2025-04-14 10:53:06 377

2 GHz的橫電磁波(TEM)小室,能夠產生均勻橫電磁場,用于測試小型集成電路,如芯片、無線通信模塊等。

測試輻射發射時,集成電路在小室中發射的輻射場可以通過端口使用電磁波接收器進行測量。

測試抗擾度時,通過小室的輸入端口施加的外部測試信號在小室內導體上方產生TEM測試場。




適用標準及參數



圖片



IEC 61967-2

IEC 61967-2 集成電路電磁發射測量 150kHz~1GHz 第2部分:輻射發射測量 TEM小室法;


SAE J1752/3

SAE J1752/3 ?集成電路 TEM/寬帶TEM(GTEM)小室法的輻射發射測量;TEM 小室(150 kHz 至 1 GHz)、寬帶 TEM 小室(150 kHz 至18 GHz);


IEC 62132-2

IEC 62132-2 集成電路電磁抗擾度測量 第2部分:輻射抗擾度測量 TEM小室和GTEM小室法;



規格參數



頻段:DC – 2 GHz


阻抗:50Ω?± 5 %


電壓駐波比:DC-3GHz<1.25


插入損耗:DC-2GHz<1dB


回波損耗:DC- 2GHz>20dB


射頻接口:N型接口


待測電路板尺寸:100×100mm

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