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低頻共模試驗裝置 CLF-1619ST 返回
產品概述
CLF-1619ST 傳導共模干擾試驗裝置短時模塊是由上海凌世研發生產,滿足 IEC 61000-4-16 的瞬態測試。配合耦合網絡可實現 330 V 注入電壓試驗需求。儀器滿足 IEC/EN 61000-4-16 在 DC、16 2/3Hz、50 Hz、60 Hz 4 個頻點上進行的短時模式測試。各種測 試配件如耦合變壓器,耦合去耦網絡及相關模塊可滿足不同的試驗需求。

技術特點:


  • 電源頻率 (DC、16.7 Hz、50Hz、60Hz) 下四個頻點的連續和短時模式測試;短時模式最大電壓可達 330 V;

  • 電源頻率下短時駐留試驗輸出電壓開關 0°同步的標準要求。

  • 開關輸出電壓上升 / 下降時間 1 μs~ 5 μs 的標準要求;

  • 15 Hz~150 kHz的掃頻測試


符合標準:
IEC 61000-4-16
應用領域:

智能儀表采用 PLC 數據傳輸的智能儀表;觸摸調光燈;通信系統;非接觸式讀卡器、信用卡終端;報警系統;電子控制;家用電器

技術參數:
規格型號
CLF-1619ST
短時模式
測試頻率
DC、162/3 Hz、50 Hz、60 Hz
開路電壓
10 V-330 V
信號等級
(1-330)V 均方根值或直流
輸出阻抗
50 Ω±10%
總諧波失真
< 10%( 正弦波 )
直流紋波
< 5%
測試等級 1
10 V,持續 1 s
測試等級 2
30 V,持續 1 s
測試等級 3
100 V,持續 1 s
測試等級 4
300 V,持續 1 s
相位同步
0° ±5%
下降 / 上升時間
1 μs-5 μs 之間

配件:
視頻播放:

版權所有:上海凌世電磁技術有限公司(2020)

滬ICP備12035591號-1

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